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Caractérisations structurales

►Savoir faire

La plateforme Nano-Rennes est dotée d’un ensemble d’équipements (en salles grises) permettant de réaliser des caractérisations structurales.

 

►Description des équipements de caractérisations structurales

 

Schéma banc à double diffraction X

Banc de double diffraction X (FOTON-INSA)

  • Mesure de paramètre de maille (0.1 %)
  • Mesure d’épaisseur (0.1 nm)

AFM Di-Innova

2 AFMs VEECO DI Innova (FOTON-INSA et IETR-GM)

  • Modes : contact, tapping, EFM, nano-oxydation (Si seulement)
  • Echantillons <1/4 2 pouces 
  • Scanner 5 et 100 µm

 

►Exemples de réalisations

 

Caractérisation DDX d'un super-réseau
Caractérisation DDX d’un super-réseau
Image AFM (Tapping mode) de marches atomiques InP/GaP
Image AFM (Tapping mode) de marches atomiques InP/GaP
Image AFM (Tapping phase) d'une surface d'InP nanostructurée
Image AFM (Tapping phase) d’une surface d’InP nanostructurée

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