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Croissance des matériaux

►Savoir faire

La plateforme Nano-Rennes est dotée d’un ensemble d’équipements dédiés à la croissance de matériaux III-V et/ou Silicium.
Elle bénéficie d’une forte expérience dans la croissance de matériaux sur substrats InP, ainsi que la croissance basse température ( <200 °C) de composés à base de Si.

Elle bénéficie ainsi d’un savoir-faire dans la croissance des :

  • Matériaux de la filière InP : InP, InAs, InGaAs, InAlAs, InAsP, In1-xGaxAsyP1-y (1,18µm <l<1,6µm) sur InP(100) et InP(311)B, InGaAlAs, GaAsSb, AlAsSb. BQ InAs sur InP(311)B, Qdash InAs sur InP(100) (1,5µm<l<1,8µm)
  • Matériaux de la filière GaAs : GaAs, AlAs, InGaAs, AlGaAs
  • Matériaux de la filière GaP : GaP, AlP, GaAsP, GaAlP
  • Matériaux de la filière Si : Si

 

►Description des équipements de croissance

Riber-32

 

Cluster Si III-V

RIBER 32 (GS-MBE)

GS-MBE (Epitaxie à jets moléculaires à sources gaz) : RIBER32 (FOTON-OHM)

  • Eléments III (solides) : In1, In2, Ga1, Ga2,
  • Eléments V (gaz) : PH3, AsH3,

Dopants Si, Be, C (cellule gaz CBr4)

Spécificités :

  • Wafers 2 pouces           
  • Ultra-vide (10-10 mbar)               
  • RHEED

Riber Compact 21

 

SS-MBE (Epitaxie à jets moléculaires à sources solides) : RIBER (FOTON-OHM) COMPACT21

  • Eléments III (solides) : In1, In2, Ga1, Ga2, Al dopants (Si, Be)
  • Eléments V (cracker) : P4, As4, Sb4, N2 (cellule plasma)

Spécificités :

  • Wafers 2 pouces
  • Ultra-vide (10-10 mbar)
  • RHEED (20keV)
  • Transfert in-situ vers le bâti UHV-LPCVD

UHC-LPCVD

 

UHV-LPCVD (Epitaxie en phase vapeur basse pression ) : RIBER (FOTON-OHM)

  • Eléments : SiH4, AsH3/H2, B2H6

Spécificités :

  • Rheed (30keV)
  • Wafers 2 pouces
  • Ultra-vide (10-10 mbar)
  • Transfert in-situ UHV vers le bâti SSMBE

 

4 LPCVD (Dépôt en phase vapeur basse pression) : AET (IETR-GM)

  •  Eléments : SiH4, GeH4, PH3, AsH3, B2H6, He, N2

Spécificités : 

  • Wafers 2 pouces max
  • Croissance basse et haute température
  • Vide secondaire (10-6 mbar)

APCVD (Dépôt en phase vapeur haute pression) : TEMPRESS (IETR-GM)

  • Eléments : SiH4, O2, N2

Spécificités :

  • Wafers 2 pouces max     
  • Croissance basse température de SiO2 (<200 °C)
  • Vide primaire (10-3 mbar)

 

►Exemples de réalisations

RHEED (MBE)
Couche de GaP / substrat Si (MBE)
Nanofils de Si (APCVD)

 

Images AFM de fils quantiques InAs/InP (MBE)
Images AFM de fils quantiques InAs/InP (MBE)
Image AFM de boites quantiques InAs/InP (MBE)
Image AFM de boites quantiques InAs/InP (MBE)
DBR AlGaAsSb/InP (MBE)

 

Image X-STM de boites quantiques InAs/InP
Image X-STM de boîtes quantiques InAs/InP